微束分析 硅酸盐玻璃的定量分析 波谱法及能谱法 |
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| 标准编号：gb/t 15244-2013 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：24.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了电子探针仪(epma)和扫描电子显微镜(sem)的x 射线波谱仪(wds)和能谱仪(eds)对硅酸盐玻璃的定量分析方法。
本标准适用于硅酸盐玻璃试样(包括碱金属的硅酸盐玻璃)的波谱法(wdx)和能谱法(edx)的定量分析。 |
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| 英文名称： |
microbeam analysis—quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive x-ray spectrometry and energy dispersive x-ray spectrometry |
 替代情况： |
替代 |
| 中标分类： |
化工>>化工综合>> |
| ics分类： |
化工技术>>分析化学>> |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2013-07-19 |
| 实施日期： |
2014-03-01
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| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会(sac/tc38) |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会(sac/tc 38) |
| 主管部门： |
全国微束分析标准化技术委员会(sac/tc 38) |
| 起草单位： |
中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 起草人： |
李香庭、曾毅、吴伟 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2014-03-01 |
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本标准按照gb/t1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替gb/t15244—2002《玻璃的电子探针定量分析方法》
本标准与gb/t15244—2002相比主要内容变化如下:
———增加了标准样品的选择原则(见5.1和5.2);
———删除5.3中(k-44)和(k-45);
———增加了试样制备后的要求(见6.1);
———修改了试样和标准样品蒸镀导电膜的具体要求(见6.3);
———修改了仪器定量分析前开机时间的要求(见7.1.1);
———增加了“分析区域较大时,也可以用电子探针的同轴光学显微镜确定分析部位”(见7.14);
———加速电压选择中增加了过压比的要求,修改了不同原子序数的加速电压选择方法(见7.2.1);
———增加了硅漂移能谱仪(sdd)的束流选择方法(见7.2.2);
———增加了用电子束扫描的方法分析不稳定玻璃(见7.2.3);
———修改了x射线线系的原子序数选择范围(见7.2.4);
———增加了sdd能谱仪的测量条件(见7.3.3);
———增加了x射线强度在测量时间内变化量小于1%的要求(见7.3.5);
———增加了轻元素的差值法测量(见8.2);
———增加了无标样eds定量分析方法(见8.4)。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(sac/tc38)提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅、吴伟。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———gb/t15244—2002。 |
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