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| 英文名称： |
reliability enhancement test of semiconductor devices |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>l05可靠性和可维护性 |
| ics分类： |
>>31.020电子元件综合 |
| 发布部门： |
中国电子学会 |
| 发布日期： |
2022-12-31 |
| 实施日期： |
2023-01-31
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| 提出单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 归口单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院 |
| 起草人： |
杨少华、颜佳辉、薛海红、牛皓、刘昌、王铁羊、吕宏峰、来萍、许少辉、赖灿雄、陈希宇、廖文渊、柳月波 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
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